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FORNARI, C. I.; RAPPL, P. H. O.; MORELHÃO, S. L.; PEIXOTO, T. R. F.; BENTMANN, H.; REINERT, F.; ABRAMOF, E. Preservation of pristine Bi2Te3 thin film topological insulator surface after ex situ mechanical removal of Te capping layer. APL Materials, v. 4, n. 10, p. 106107, Oct. 2016. DOI: <10.1063/1.4964610>. Disponível em: <http://doi.org/10.1063/1.4964610>.
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... como proposto por Fornari et al. (2016).
... pode ser encontrada na literatura (FORNARI et al., 2016).